Park Systems invierte en una cartera de metrología avanzada para la investigación de embalajes 3D y lógica
GWACHEON, Corea del Sur, 10 de junio de 2026 /PRNewswire/ -- Park Systems, líder mundial en soluciones de microscopía de fuerza atómica (AFM) y metrología a nanoescala, anunció hoy el lanzamiento de un nuevo programa de desarrollo conjunto (JDP). En el marco de este programa, Park Systems evaluará y desarrollará soluciones de medición utilizando su amplia gama de productos, que incluye AFM, interferometría de luz blanca (WLI), elipsometría espectroscópica de imágenes (ISE) y microscopía holográfica digital (DHM).
Con sede en Bélgica, las instalaciones de vanguardia de imec funcionan como un centro de investigación global para tecnologías avanzadas de semiconductores, reuniendo al ecosistema de semiconductores para desarrollar, validar y escalar tecnologías de forma colaborativa, desde la investigación inicial hasta soluciones listas para la industria. Para el JDP, imec proporcionará muestras basadas en hojas de ruta de lógica y empaquetado avanzado 3D de próxima generación. El alcance del nuevo JDP refleja tanto la creciente complejidad de la fabricación de semiconductores como la continua expansión de la cartera de metrología de Park Systems.
"La fabricación de semiconductores ha entrado en una nueva era de complejidad, que impone exigencias cada vez mayores a la metrología", afirmó el doctor Sang-il Park, fundador y consejero delegado de Park Systems. "Este JDP con imec implementa la gama completa de nuestras nuevas soluciones de metrología para abordar los desafíos que definirán la próxima generación de fabricación de semiconductores".
La firma de este JDP coincide con un hito para Park Systems, ya que la compañía inaugura su nueva sede global en Gwacheon, Corea del Sur, una instalación diseñada para impulsar las capacidades que esta colaboración busca explorar.
"Las arquitecturas y materiales de semiconductores del futuro introducen nuevos e importantes desafíos para la integración de dispositivos, y más aún para la metrología", afirmó Philippe Leray, vicepresidente de I+D de patrones de imec. "Abordar estos desafíos requerirá innovación e integración sinérgica de diferentes tecnologías. A través de nuestra colaboración con Park Systems, pretendemos demostrar cómo sus últimas capacidades pueden habilitar la futura hoja de ruta de la tecnología de semiconductores".
El JDP también incluye la membresía del Programa de Afiliación Industrial (IIAP) de imec sobre Integración de Sistemas 3D y tendrá una duración de dos años.
Acerca de Park Systems
Park Systems es líder mundial en nanometrología y ofrece soluciones de medición avanzadas para aplicaciones industriales y de investigación. Fundada por el doctor Sang-il Park, quien contribuyó a la invención de la microscopía de fuerza atómica (AFM) en la Universidad de Stanford, la empresa ha crecido gracias a la innovación continua y adquisiciones estratégicas, convirtiéndose en un referente en la industria global de la nanometrología. La cartera tecnológica de Park Systems incluye AFM, interferometría de luz blanca (WLI), microscopía holográfica digital (DHM), elipsometría espectroscópica de imágenes (ISE), sistemas de aislamiento de vibraciones activas y sondas de metal sólido. Con oficinas regionales en América, Europa y Asia, Park Systems proporciona soporte a clientes en la fabricación de semiconductores, la ciencia de los materiales y la investigación en nanotecnología.
Para más información, visite www.parksystems.com